Phasc12測試來的數(shù)據(jù),設(shè)備失效分析,器件有四個層次。其中個是芯片下的粘接層的阻抗值,后面Tau是完成的測試時間,四個層次的阻抗值之和就是這個器件的熱阻值。并且每一-個拐點(diǎn) 都表明熱進(jìn)入了一個新的層次。每個層次的數(shù)據(jù)將表明這個器件不同層向外散熱的好壞,對不同廠家同類產(chǎn)品而言,可以讓我們選擇熱阻值非常好的廠家;同時它也可以檢測同- ~廠家,同類產(chǎn)品,失效分析儀器,不同批次質(zhì)量的差異,從而評測出該廠家生產(chǎn)工藝的穩(wěn)定性。主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED, MOSFET,失效分析設(shè)備,MESFET ,IGBT,IC等分立功率器件的熱阻測試及分析。
Phase 熱阻測試儀主要特點(diǎn)
1.提供符合MIL&JEDEC的標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境
2.提供Rja、Rjb、Rjc、熱阻參數(shù)
3.高可提供200A,4000W電源系統(tǒng)
4.可測試各種封裝類型的熱阻
5.可測試元器件的穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)熱阻
6.可對芯片焊接進(jìn)行篩選評估
三、優(yōu)點(diǎn)
1.增強(qiáng)瞬態(tài)測試能力
2.較高的數(shù)據(jù)和處理速度
3.單獨(dú)為改善無障礙改造或修理
4.兼容所有現(xiàn)有的分析技術(shù)的夾具
5.緊湊的設(shè)計
微焦點(diǎn)X射線檢測
主要技術(shù)參數(shù):
1、開放式球管射線源,蘇州失效分析,高管電壓160kV,大管電流1mA,大靶功率7W
2、焦點(diǎn)尺寸2μm
3、探測器傾斜角度為±70°,圖像≥100萬像素,灰度等級為16位
4、載物臺可繞旋轉(zhuǎn)軸360度旋轉(zhuǎn)
5、大可檢測樣品重量5Kg
6、大可檢測樣品尺寸為
460mm×410mm×300mm
用途:可用于半導(dǎo)體產(chǎn)品、微電子元件、電路板焊接器件等電子產(chǎn)品焊點(diǎn)質(zhì)量檢測及多余物檢測,也可進(jìn)行小直徑管焊縫質(zhì)量檢測。
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