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北京北廣精儀儀器設備有限公司
主營：電阻率測試儀，阻抗分析儀，漏電起痕試驗機，TOC分析儀
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| 價格： | 98000.0000 / 臺 |
低頻LCR阻抗分析儀 直流阻抗分析儀 測量方法，分類型操作：平行板法（測薄片材料，將材料夾在兩圓形電極間，電極直徑 D、間距 d，儀器測量電容 C，通過公式 εr=C×d/(ε0×S) 計算，S 為電極面積，ε0 為真空介電常數，頻率選 1kHz-1MHz，適合測固體薄片）；同軸探頭法（測液體或粉末材料，將同軸探頭插入材料，儀器測量探頭阻抗變化，計算 εr 與 tanδ，無需樣品加工，適合測黏稠液體）；諧振腔法（測高頻介電材料，將材料放入諧振腔，通過阻抗變化測量諧振頻率與品質因數，計算 εr 與 tanδ，適合 100MHz-10GHz 頻段）。
低頻LCR阻抗分析儀 直流阻抗分析儀 在選擇合適的阻抗分析儀時，應考慮以下幾個方面。
測量方法：根據阻抗和頻率的預期測量范圍選擇測量方法。
電壓電平控制：請記住，電容器的介電常數及其電容取決于交流電壓電平。同樣，電感器材料的電磁滯后也取決于交流電流電平。因此，一臺好的分析儀至少必須具備電壓電平監(jiān)控功能。 好還能具備自動電平控制能力，以保持電壓恒定。
測量精度：不同的分析儀及其設計具有不同的精度。根據所需的精度來決定分析儀。
所需的阻抗參數：根據要測量的參數選擇儀器，如介電常數、磁導率、品質因數 (Q) 或耗散因子 (D)。
介電常數的大小表示該介質中空間電荷互相作用減弱的程度。作為高頻絕緣材料，ε要小，特別是用于高壓絕緣時。在制造高電容器時，則要求ε要大，特別是小型電容器。
在絕緣技術中，特別是選擇絕緣材料或介質貯能材料時，都需要考慮電介質的介電常數。此外，由于介電常數取決于極化，而極化又取決于電介質的分子結構和分子運動的形式。所以，通過介電常數隨電場強度、頻率和溫度變化規(guī)律的研究，還可以推斷絕緣材料的分子結構。
Q值：tgδ的倒數稱為品質因素，或稱Q值。Q值大，介電損失小，說明品質好。所以在選用電介質前，必須首先測定它們的ε和tgδ。而這兩者的測定是分不開的。
通常測量材料介電常數和介質損耗角正切的方法有二種：交流電橋法和Q表測量法，其中Q表測量法在測量時由于操作與計算比較簡便而廣泛采用。本實驗主要采用的是Q表測量法。
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